半导体材料分析系统 PDF Print E-mail
Written by goofy   
Wednesday, 02 April 2008 17:27
半导体材料分析系统

产品名称:半导体材料分析系统

型号:MAPLE

品牌:DongWoo

原产地:韩国

产品特性:

- 高性价比的半导体材料分析系统
-
非常宽的扩大量程(UV-VIS-NIR)
-
简洁的设计和配置
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低噪声和极高的荧光信号探测能力
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可以采用任意激光激发源
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很容易找到一个峰值和FWHM说明
- He-Cd
激光器, 325nm, 25mW, TEM 多模
-
高反射介质镜和支架
-
激光带通滤光片
-
熔融石英透镜组,用于聚焦和准直
-
截止滤光片用于防止激光反射
-
电动XY轴位移平台,步长分辨率1um
- 2"
4"晶片样本支架
-
紧凑的凹式全息光谱摄制仪
- 1024
像素, 低噪声阵列探测器
- 25um x 2500um
像素尺寸, 16, USB 接口
-
探测范围 : 200-1100nm(取决于光栅)
- SMA905
连接器, 100um 直径., 光纤接口
-
包括系统控制器, 控制和绘图
附加激发光源
-
氩离子激光器(488 514nm) 50-100mW
- DPSS
激光器(532nm) 100-300mW
- He-Ne
激光器(632.8nm) 20mW
- NIR
激光器(785nm) 100mW
附加探测器
- CCD
线性探测器 (2048像素) 400-900nm
- InGaAs
阵列探测器(NIR512像素) 900-1700nm
-
高性价比的低噪声致冷型CCD探测器 (-75C)
(1024 x 128 or 1024 x 256
像素)
-
光电倍增管探测器 (190-900nm 测量范围)

(TEMoo 模式)
- 50um(
一般用途)
- 10um(10x M-plan
透镜)
-
在微型荧光或者拉曼光谱系统中采用100x M-plan 透镜时光斑尺寸1um
-
用于低温条件的低温系统. 可以在荧光光谱仪系统中提供

测色仪 氙灯 滤光片 光谱仪 光谱分析仪 近红外光谱仪 固体激光器 激光器 单频激光器

Last Updated ( Tuesday, 14 October 2008 14:36 )
 
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